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일립소미터(Ellipsometer)

장비상세페이지
보유기관 한국핵융합에너지연구원
보유지역 군산
보유실험실 국가핵융합연구소 플라즈마기술연구센터 1층 104
모델명 V-VASE
장비용도 - 박막 및 처리되는 시편 등의 물질의 특성을 측정.

- 물질의 타원편광 특성을 측정하여 물질의 두께, 굴절율 등의 광학 상수를 비파괴 방식으로 관찰.

- 물질의 두께, 조성, 굴절율 등의 측정 및 분석 가능
주요사양 1. VASE 기법
1) 광학적 구성 : RAE(Rotating analyzer ellipsometer) + AutoRetarder(computer controlled retarder)
2) 파장 선택 : scanning monochromator.
3) 디텍터 : photodiode with inergrated preamplifier using digital lockin hardware/software
2. Spectral Range : 193 to 2500nm
3. Spectral Resolution : 0.3Å
4. 측정속도
1) Typical : 0.1 to 3 sec / 1 wavelength
2) High Accuracy : 20 sec / 1 wavelength ( AutoRetarder full사용시)
5. Accuracy (straight-through, air scan)
1) Ψ = 45.00° ± 0.03°, tan(Ψ) = 1 ± 0.001
2) Δ = 0.00° ± 0.20°, cos(Δ) = 1 ± 0.000006
6. Repeatability
1) Ψ = ± 0.015°, tan(Ψ) = ± 0.00003
2) Δ = ± 0.08°, cos(Δ) = ± 0.000001
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